يحاول ذهب - حر
LibreOffice - Special Edition #40
استمتع بـUnlimited مع Magzter GOLD
يقرأ LibreOffice إلى جانب أكثر من 9000 مجلة وصحيفة أخرى من خلال اشتراك واحد فقط
عرض الكتالوجاشترك فقط في LibreOffice
إلغاء في أي وقت.
(لا يوجد التزامات) ⓘإذا لم تكن راضيًا عن الاشتراك، يمكنك مراسلتنا عبر البريد الإلكتروني help@magzter.com خلال 7 أيام من تاريخ بدء الاشتراك لاسترداد كامل المبلغ. نعدك بذلك! (ملاحظة: لا ينطبق على شراء عدد واحد فقط)
الاشتراك الرقمي
الوصول الفوري ⓘاشترك الآن لتبدأ القراءة فورًا على موقع Magzter، وتطبيقات iOS، وAndroid، وAmazon.
في هذا العدد
Become a LibreOffice expert with this deep-dive into the world's greatest free office suite. This single volume includes tutorials on all the core tools of the LibreOffice suite. You’ll also find insightful articles on working with LibreOffice extensions, templates, and macros, as well as bonus articles on advanced layout, migration, digital signatures, and XML scripting. If you’re new to LibreOffice, or if you are ready to take your LibreOffice skills to another level of power and efficiency, look inside!
LibreOffice Description:
Become a LibreOffice expert with this deep-dive into the world's greatest free office suite. This single volume includes tutorials on all the core tools of the LibreOffice suite. You’ll also find insightful articles on working with LibreOffice extensions, templates, and macros, as well as bonus articles on advanced layout, migration, digital signatures, and XML scripting. If you’re new to LibreOffice, or if you are ready to take your LibreOffice skills to another level of power and efficiency, look inside!
عناوين ذات صلة
Popular Mechanics US
PCWorld
WIRED
Macworld
Fast Company
AppleMagazine
Mac Life
PC Gamer US Edition
Stereophile
WatchTime
Linux Magazine
ADMIN Network & Security
CODE Magazine
Techlife News
Flight Journal
Reboot Magazine
MakerSpace
Linux Shell Handbook
Model Airplane News
Residential Tech Today
audioXpress
Circuit Cellar
IssueWire
Best Hospitals
Cool Linux Hacks
LibreOffice Expert
Voice Coil
CAL LAB: The International Journal of Metrology
USBE & Information Technology
MIT Technology Review